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紫外輻照計(jì)（單通道） MKY-UV-A
紫外輻照計(jì)（單通道） MKY-UV-A
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
主要性能指標(biāo)：
* 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng) (二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測(cè)量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準(zhǔn)確度
±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
1秒
* 使用環(huán)境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只
紫外輻照計(jì)（單通道） MKY-UV-A
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
主要性能指標(biāo)：
* 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng) (二者擇其一)
（1）UV－365探頭（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
λ：(320～400)nm； λP＝365nm
（2）UV－420探頭（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)圖）
λ：(375～475)nm； λP＝420nm
* 輻照度測(cè)量范圍
(0.1～199.9×103)μW/cm2
* 紫外帶外區(qū)雜光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 準(zhǔn)確度
±10％
* 響應(yīng)時(shí)間
1秒
* 使用環(huán)境
溫度(0～40)℃；濕度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 電源
6F22型9V積層電池一只
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